Сканирующий туннельный микроскоп НИКС СТМ 2.8 (поколение II)

<NEW> НИКС СТМ 2.8 сканирующий туннельный микроскоп (поколение II) Сканирующий туннельный микроскоп

Артикул: #757216 Сравнить

Сканирующий туннельный микроскоп НИКС СТМ 2.8 (поколение II)

Перемещаться по товарам:

Предыдущий товарСледующий товар

Оформить заказ в городе: ВОЛГОГРАД

Открыть корзину

Нет в наличии

ул. Кирсановская, дом 6

тел. +7 (8442) 973343

тел. +7 (8442) 975003

тел. +7 (8442) 975015

nix@dwiwm.ru

задать вопрос Мисс Никс

пн-чт: 09:00-18:00; пт: 09:00-17:00; сб-вс: выходной

Нет в наличии

ул. Канунникова, дом 9 оф.1012

тел. +7 (8442) 931-359

тел. +7 (8442) 931-958

тел. +7 (988) 0076177-WhatsApp/Viber

nix@computer34.ru

задать вопрос Мисс Никс

пн-пт: 9:00 - 17:00; сб-вс: выходной

Характеристики
Видео
Опции и расходники
Примеры фотографий
Отзывы (нет)
Оставить отзыв
Тесты
Информация

Характеристики

Основные характеристики
Производитель	НИКС
Модель	СТМ 2.8найти похожий ПК НИКС
Тип оборудования	Сканирующий туннельный микроскоп
Описание	Сканирующий туннельный микроскоп НИКС СТМ 2.8 был создан в рамках проекта Qubit. Относится ко второму поколению сканирующих туннельных микроскопов, полностью спроектированных в лаборатории НИКСа и созданных научно-производственным отделом компании. Второе поколение СТМ-ов отличается улучшенными техническими характеристиками, упрощённой работой и низкой ценой для конечного заказчика. Характеристики изделия: Разрешение по горизонтали (X,Y): 0,1 нм Разрешение по вертикали (Z): 0,05 нм Ход микрометрических винтов для выбора области сканирования по X, Y: 15 мм Поле сканирования: 1,3 мкм с базовым блоком управления с выходным напряжением от -13 до +13В; 7 мкм с исследовательским блоком управления с выходным напряжением до +140В АЦП 16 разрядов ЦАП 16 разрядов
Области применения	Предназначен для измерения рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным разрешением.
Логистика
Размеры упаковки (измерено в НИКСе)	24.4 x 24.4 x 24.4 см
Вес брутто (измерено в НИКСе)	2.9 кг